Metodi di Total Scattering per lo studio di materiali alla nanoscala
Warning message
This content has not yet been translated. What you're seeing is the content in the original language.I materiali ibridi hanno il vantaggio di combinare in modo sinergico le proprietà funzionali dei singoli componenti e di poterle modulare in sistemi ad alta tecnologia. Una delle combinazioni più interessanti è costituita da sistemi ibridi cristallini/amorfi. Tra questi, nanocompositi di SiO2 (biossido di silicio) amorfo (e poroso) e TiO2 (biossido di titanio) nanocristallino, disperso nella matrice silicea sotto forma di particelle di pochi nanometri (1 nm = 10-9 m), riescono a combinare elevate proprietà di assorbimento (SiO2) e di fotocatalisi (TiO2), di rilevante interesse ambientale (purificazione di inquinanti organici), energetico (fotovoltaico e produzione di idrogeno) e industriale (vernici e tessuti auto-pulenti). Per caratterizzare quantitativamente le proprietà strutturali e microstrutturali di entrambe le componenti e le loro reciproche influenze in condizioni di sintesi diverse (di tipo sol-gel), sono stati sviluppati metodi innovativi di modellizzazione, utilizzando misure di diffrazione di raggi X di sincrotrone, effettuate presso la Material Science Beamline MS4@SLS (Swiss Light Source). Tali metodi, cosiddetti di Total Scattering, si basano sull'uso combinato dei metodi di analisi "Debye Function" e "Radial Distribution Function". L'approccio ha consentito di descrivere gli effetti sistematici della matrice amorfa su forma e dimensione dei nanocristalli, di investigare l'interfaccia SiO2/TiO2 e di correlare la loro influenza sulle proprietà ottiche, elettroniche, fotocatalitiche e di assorbimento dei compositi. Le tecniche di Total Scattering qui introdotte, sono particolarmente adatte a caratterizzare sistemi nanocristallini e disordinati e (contrariamente alle microscopie) costituiscono metodi di indagine non locale, di fondamentale importanza per effettuare analisi ad alta significatività statistica ed in processi di scale-up.
Authors: G. Cernuto, S. Galli, F. Trudu, G.M. Colonna, N. Masciocchi, A. Cervellino, A. Guagliardi
Title: Investigating the Amorphous-Crystalline Interplay in SiO2/TiO2 Nanocomposites by Total Scattering Methods
Journal: Angew. Chem. Int. Ed.
Year: 2011
References: 50 (2011), pp. 10828-10833