FIB - Servizi di analisi tramite microscopia elettronica (DIT.AD002.121)
Area tematica
Ingegneria, ICT e tecnologie per l'energia e i trasporti
Area progettuale
Nanotecnologie e materiali avanzati (DIT.AD002)Struttura responsabile del progetto di ricerca
Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM)
Responsabile di progetto
GIOVANNA TREVISI
Telefono: 0521269236
E-mail: giovanna.trevisi@imem.cnr.it
Abstract
Analisi tramite microscopia elettronica in scansione e Focused Ion Beam di materiali di interesse applicativo tra cui biomateriali e superfici micro- e nano-strutturate impiegate per colture cellulari in vitro.
Obiettivi
Il principale obiettivo di questa attività è la messa a punto di una metodologia di indagine morfologico/strutturale/composizionale agile e flessibile in grado di rispondere rapidamente alle esigenze specifiche dell'analisi di materiali di interesse applicativo. Particolare attenzione verrà riservata allo studio di biomateriali, la cui natura pone problematiche specifiche dal punto di vista delle analisi basate su microscopia elettronica.
Data inizio attività
24/05/2019
Parole chiave
SEM, FIB, microscopia elettronica
Ultimo aggiornamento: 18/04/2025