Giochi di colori: l'impiego della riflettografia infrarossa multispettrale per l'analisi di dipinti

La riflettografia infrarossa, tecnica consolidata nella diagnostica di dipinti, consiste nell'illuminare un'opera mediante radiazione infrarossa (IR) e nel rivelare la radiazione da essa retro-diffusa in una singola banda spettrale. Il principio che è alla base della riflettografia è la trasparenza della maggior parte dei pigmenti alla radiazione IR: questo fenomeno consente di rivelare caratteristiche nascoste dallo strato pittorico quali il disegno preparatorio, pentimenti o ritocchi dovuti ad interventi di restauro subiti dall'opera. Recentemente la riflettografia è stata implementata dal CNR-INO con la modalità multispettrale: tale nuova tecnica genera un set di immagini monocromatiche (ipercubo) acquisite nella regione spettrale del vicino IR da 800 a 2300 nm, in intervalli spettrali di larghezza 100 nm. Rispetto alla tradizionale tecnica monobanda, con la riflettografia multispettrale si acquisiscono contemporaneamente dati spettrali (per ogni pixel delle immagini) e immagini ad alta risoluzione spaziale (una per ogni lunghezza d'onda). Queste informazioni consentono lo studio dei materiali pittorici e della loro mappatura sulla superficie del dipinto; inoltre, permettono di poter scegliere la lunghezza d'onda opportuna che rende più efficace la visualizzazione di determinati dettagli, insieme all'elaborazione di differenti piani immagine in modo da estrarre informazioni nascoste. L'elaborazione delle immagini è immediata in quanto il dispositivo sviluppato fornisce immagini che sono automaticamente registrate, metricamente corrette e calibrate. Sono state effettuate analisi multispettrali di numerosi capolavori che hanno dimostrato l'utilità della riflettografia multispettrale nell'analisi di dipinti, sia con finalità conoscitive sia per un'opportuna progettazione dell'intervento di restauro.

Autori: C. Daffara, R. Fontana

Titolo: Multispectral Infrared Reflectography to Differentiate Features in Paintings

Rivista: Microscopy and Microanalysis

Anno: 2011

Riferimenti bibliografici: 17 (2011), pp. 691-695