Evento
Advanced microscopies for characterization and nanofabrication
Il 15/12/2014 ore 15.00 - 17.00
Imem-Cnr, Parco Area delle Scienze 37/a, 43124 Parma, Italy
Sala A
Prof. M. Ricardo Ibarra
Universidad de Zaragoza
Ricercatore ospite: Franca Albertini
The combination of high resolution electron microscopy, the joining of electron and ions beam at once and scanning probe microscopies provides nowadays excellent tools for the design of new materials and devices with properties never expected
Organizzato da:
Imem-Cnr
Referente organizzativo:
Franca Albertini
Cnr - Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo
Imem-Cnr, Parco Area delle Scienze 37/a, 43124 Parma, Italy
franca.albertini@imem.cnr.it
Modalità di accesso: ingresso libero
Vedi anche: