X-ray diffraction characterization of Low Temperature grown GaAs/InP epilayers (Articolo in rivista)

Type

• Articolo in rivista (Classe)
• Prodotto della ricerca (Classe)

Label

• X-ray diffraction characterization of Low Temperature grown GaAs/InP epilayers (Articolo in rivista) (literal)

Anno

• 2006-01-01T00:00:00+01:00 (literal)

Alternative label

• Ferrari C., Dubecky F., Kudela R., John J., Srnanek R. (2006)
  X-ray diffraction characterization of Low Temperature grown GaAs/InP epilayers
  in Proceedings of the IEEE
  (literal)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#autori

• Ferrari C., Dubecky F., Kudela R., John J., Srnanek R. (literal)

Pagina inizio

• 143 (literal)

Pagina fine

• 146 (literal)

Rivista

• Proceedings of the IEEE (Rivista)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#note

• 6th Int. Conf. on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems (ASDAM '06), Smolenice, Slovakia (literal)

Note

• ISI Web of Science (WOS) (literal)

Titolo

• X-ray diffraction characterization of Low Temperature grown GaAs/InP epilayers (literal)

Prodotto di

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sistemi per la conversione di energia (SP.P02.002.001) (Modulo)

Autore CNR

• CLAUDIO FERRARI (Persona)

Incoming links:

Prodotto

• Istituto dei materiali per l'elettronica ed il magnetismo (IMEM) (Istituto)
• Sistemi per la conversione di energia (SP.P02.002.001) (Modulo)

Autore CNR di

• CLAUDIO FERRARI (Persona)

Http://www.cnr.it/ontology/cnr/pubblicazioni.owl#rivistaDi

• Proceedings of the IEEE (Rivista)