Profilo personale

Claudio Ferrari

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Prodotti della ricerca

Bosi, Matteo; Seravalli, Luca; Beretta, Sara; Ferrari, Claudio

Growth of germanium nanowires with isobuthyl germane

(2019) in Nanotechnology (Bristol. Print)
Ferrari C.; Ghica C.; Rotunno E.

A study of extended defects in surface damaged crystals

(2018) in Crystals (Basel)
Salmaso, B.; Spiga, D.; Basso, S.; Ghigo, M.; Giro, E.; Pareschi, G.; Tagliaferri, G.; Vecchi, G.; Pelliciari, C.; Burwitz, V.; del Rio, M. Sanchez; Ferrari, C.; Zappettini, A.; Uslenghi, M.; Fiorini, M.; Parodi, G.; Ferreira, I.; Bavdaz, M.

Progress in the realization of the Beam Expander Testing X-ray facility (BEaTriX) for testing ATHENA's SPO modules

(2018) in Proceedings of SPIE, the International Society for Optical Engineering
Bosi, M.; Ferrari, C.; Nilsson, D.; Ward, P. J.

A study on 3C-sic carbonization on misoriented si substrates: From research to production scale reactors

(2017) in Materials science forum
Negri, Marco; Bosi, Matteo; Orsi, Davide; Rimoldi, Tiziano; Attolini, Giovanni; Buffagni, Elisa; Ferrari, Claudio; Cristofolini, Luigi; Salviati, Giancarlo

Effect of a halogen-based precursor on dopant incorporation in 3C-SiC film epitaxy

(2017) in Journal of materials science
Fornari R.; Pavesi M.; Montedoro V.; Klimm D.; Mezzadri F.; Cora I.; Pecz B.; Boschi F.; Parisini A.; Baraldi A.; Ferrari C.; Gombia E.; Bosi M.

Thermal stability of έ-Ga2O3 polymorph

(2017) in Acta materialia
R Fornari, M Pavesi, V Montedoro, D Klimm, Francesco Mezzadri, Ildikó Cora, Béla Pécz, F Boschi, A Parisini, A Baraldi, C Ferrari, E Gombia, M Bosi

Thermal stability of ?-Ga2O3 polymorph

(2017) in Acta materialia
Mezzadri, Francesco; Mezzadri, Francesco; Calestani, Gianluca; Boschi, Francesco; Boschi, Francesco; Delmonte, Davide; Bosi, Matteo; Fornari, Roberto; Fornari, Roberto

Crystal structure and ferroelectric properties of epsilon-Ga2O3 films grown on (0001)-sapphire

(2016) in Inorganic chemistry
Bosi, M.; Attolini, G.; Negri, M.; Ferrari, C.; Buffagni, E.; Frigeri, C.; Calicchio, M.; Pecz, B.; Riesz, F.; Cora, I.; Osvath, Z.; Jiang, L.; Borionetti, G.

Defect structure and strain reduction of 3C-SiC/Si layers obtained with the use of a buffer layer and methyltrichlorosilane addition

(2016) in CrystEngComm (Camb., Online)
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