La caratterizzazione dei ceramici a livello nanometrico è di importanza fondamentale, specialmente quando le interfacce tra due fasi diverse determinano il successo e l'efficacia di meccanismi di tenacizzazione. In questo contesto, l'attività di caratterizzazione microstrutturale mediante microscopia a trasmissione elettronica (TEM), abbinata ad altre tecniche analitiche come la diffrazione elettronica, la spettroscopia a dispersione di energia (EDS) e la spettroscopia a perdita di energia elettronica (EELS), si pone come obiettivo lo studio accurato della distribuzione, della chimica e della cristallinità delle fasi secondarie e delle giunzioni ai punti tripli, così come della presenza di fasi intergranulari amorfe. La tecnica viene utilizzata da personale ISTEC principalmente per studiare materiali UHTC rinforzati con vari tipi di fibre, a seguito di un rinnovato contratto con l'European Office of Aerospace Research and Development (EOARD) - Air Force Office of Scientific Research (AFOSR). Le analisi mediante TEM hanno rivelato importanti meccanismi di trasformazione delle fibre durante la fase di sinterizzazione e hanno permesso di comprendere meglio le complesse relazioni tra processo, microstruttura e proprietà di questi materiali.
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