Consiglio Nazionale delle Ricerche

Tipo di prodottoArticolo in rivista
TitoloSimple method for characterizing linear multi-port microstrip structures
Anno di pubblicazione2011
Formato
  • Elettronico
  • Cartaceo
Autore/iLonac J. A. , Melczarsky I. , Paganelli R. P.
Affiliazioni autoriMEC srl - Viale Pepoli, 3/2 40123 Bologna, BO, Italy DEIS, University of Bologna - Viale Risorgimento, 2 40136 Bologna, BO, Italy
Autori CNR e affiliazioni
  • RUDI PAOLO PAGANELLI
Lingua/e
  • inglese
AbstractA simple method for the full characterization of passive n-port microwave monolithic integrated circuit (MMIC) structures using standard two-port vector network analyzer (VNA) measurements is presented. Its main advantages are: it does not require to perform measurements from all the ports of the network, no special calibration procedure is needed, the auxiliary terminations required by the procedure can be integrated at the border of the structure under test with minimal area increase, and it can be easily implemented in commercial CAD software. The method was applied to a nine-port microstrip structure corresponding to the output power combiner and impedance matching network of an X-band MMIC high power amplifier (HPA). The full S-parameter matrix was derived from two-port measurements and compared to the circuit-as well as electromagnetic (EM)-based simulations of the structure.
Lingua abstractinglese
Altro abstract-
Lingua altro abstract-
Pagine da281
Pagine a288
Pagine totali8
RivistaInternational journal of microwave and wireless technologies (Print)
Attiva dal 2009
Editore: Cambridge University Press, - Cambridge
Paese di pubblicazione: Regno Unito
Lingua: inglese
ISSN: 1759-0787
Titolo chiave: International journal of microwave and wireless technologies (Print)
Titolo proprio: International journal of microwave and wireless technologies. (Print)
Titolo abbreviato: Int. j. microw. wirel. technol. (Print)
Numero volume della rivista3/03
Fascicolo della rivista-
DOI10.1017/S1759078711000481
Verificato da refereeSì: Internazionale
Stato della pubblicazione-
Indicizzazione (in banche dati controllate)
  • ISI Web of Science (WOS) (Codice:000208613300006)
  • Scopus (Codice:2-s2.0-79960116991)
Parole chiaven-port, on-wafer measurements, MMIC design, microstrip structures, scattering matrix measurement
Link (URL, URI)http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=8307128
Titolo parallelo-
Data di accettazione-
Note/Altre informazioni-
Strutture CNR
  • IEIIT — Istituto di elettronica e di ingegneria dell'informazione e delle telecomunicazioni
Moduli CNR
    Progetti Europei-
    Allegati
    • Multiport characterization

    Dati storici
    I dati storici non sono modificabili, sono stati ereditati da altri sistemi (es. Gestione Istituti, PUMA, ...) e hanno solo valore storico.
    Area disciplinareComputer Science & Engineering
    Area valutazione CIVRIngegneria industriale e informatica
    RivistaInternational Journal of Microwave and Wireless Technologies
    Note