Consiglio Nazionale delle Ricerche

Tipo di prodottoContributo in atti di convegno
TitoloUltra-Fast Error Correction and Detection for Low-Latency Storage Applications with Emerging Memories
Anno di pubblicazione2018
FormatoElettronico
Autore/iFerrari M.; Amato P.; Laurent C.; Sforzin M.; Barletta L.; Bellini S.
Affiliazioni autoriCNR-IEIIT; Micron Technology Inc., Via Torri Bianche 24, Vimercate, 20871, Italy; Micron Technology Inc., Via Torri Bianche 24, Vimercate, 20871, Italy; Micron Technology Inc., Via Torri Bianche 24, Vimercate, 20871, Italy; DEIB, Politecnico di Milano; DEIB, Politecnico di Milano;
Autori CNR e affiliazioni
  • MARCO PIETRO FERRARI
Lingua/e
  • inglese
AbstractEmerging memory technologies (like PCM, MRAM and 3D XPoint) can make data storage as fast as the rest of the system. But to cope with the reliability targets of storage applications, error correcting codes (ECCs) able to correct many errors might be needed anyway. Hierarchical codes, ECCs enabling two levels of correction, can be good candidates to satisfy these reliability targets, without impacting (on average) the low-latency characteristics of these technologies. In particular, an Ultra-Fast (UF) ECC can be used as first trial as long as it is able to flag its failures with high probability and low latency. In this paper we design an UF-ECC able to produce a check for incorrect decoding with probability lower than the typical target uncorrectable bit-error rate (UBER) of storage applications (e.g. 1e-15) and with a latency comparable with the UF-ECC correction process.
Lingua abstractinglese
Altro abstract-
Lingua altro abstract-
Pagine da1
Pagine a5
Pagine totali5
Rivista-
Numero volume della rivista-
Serie/Collana-
Titolo del volume-
Numero volume della serie/collana-
Curatore/i del volume-
ISBN-
DOI-
Editore-
Verificato da refereeSì: Internazionale
Stato della pubblicazionePublished version
Indicizzazione (in banche dati controllate)-
Parole chiaveDecoding, Error correction codes, Reliability, Nonvolatile memory, Phase change materials, Three-dimensional displays
Link (URL, URI)-
Titolo convegno/congressoIEEE International Symposium on Circuits and Systems
Luogo convegno/congressoFirenze, Italia
Data/e convegno/congresso27-30/05/2018
RilevanzaInternazionale
RelazioneContributo
Titolo parallelo-
Note/Altre informazioni-
Strutture CNR
  • IEIIT — Istituto di elettronica e di ingegneria dell'informazione e delle telecomunicazioni
Moduli CNR
    Progetti Europei-
    Allegati