Consiglio Nazionale delle Ricerche

Tipo di prodottoArticolo in rivista
TitoloSeebeck coefficient of nanowires interconnected into large area networks
Anno di pubblicazione2013
FormatoCartaceo
Autore/iG. Pennelli, M. Totaro, M. Piotto, P. Bruschi
Affiliazioni autoriDipartimento di Ingegneria della Informazione, Universita? di Pisa, Via G.Caruso, I-56122 Pisa, Italy Dipartimento di Ingegneria della Informazione, Universita? di Pisa, Via G.Caruso, I-56122 Pisa, Italy IEIIT - Pisa, CNR, Via G. Caruso, I-56122 Pisa, Italy Dipartimento di Ingegneria della Informazione, Universita? di Pisa, Via G.Caruso, I-56122 Pisa, Italy
Autori CNR e affiliazioni
  • MASSIMO PIOTTO
Lingua/e
  • inglese
AbstractWe measured the macroscopic Seebeck coefficient of silicon nanowires (SiNWs), organized "in a highly interconnected networks on large areas (order of mm(2)). The fabricated networks are very reliable with respect to random nanowire failure and are electrically and thermally equivalent to many SiNWs placed in parallel between the electrical contacts. The equivalent SiNWs have a macroscopic length of the order of millimeters and are very narrow (width smaller than 100 nm) so that they can be used to exploit thermoelectric properties at nanoscale for macroscopic electrical power generation and/or cooling. The measurement of the Seebeck coefficient S, facilitated by the macroscopic dimensions of the network, gives an insight into two questions, nanowire effective doping and carrier mobility, which are widely discussed in the literature. We found that the measured value of S is compatible with an effective doping that is higher than that of the original wafer. This higher doping is consistent with the value estimated from the measured electrical conductivity of the SiNWs with the assumption that the electron mobility inside the nanowire is equal to that of bulk silicon.
Lingua abstractinglese
Altro abstract-
Lingua altro abstract-
Pagine da2592
Pagine a2597
Pagine totali-
RivistaNano letters (Print)
Attiva dal 2001
Editore: American Chemical Society, - Washington, DC
Paese di pubblicazione: Stati Uniti d'America
Lingua: inglese
ISSN: 1530-6984
Titolo chiave: Nano letters (Print)
Titolo proprio: Nano letters. (Print)
Titolo abbreviato: Nano lett. (Print)
Numero volume della rivista13
Fascicolo della rivista6
DOI10.1021/nl400705b
Verificato da refereeSì: Internazionale
Stato della pubblicazionePublished version
Indicizzazione (in banche dati controllate)
  • ISI Web of Science (WOS) (Codice:000320485100044)
  • Scopus (Codice:2-s2.0-84879098048)
Parole chiaveNanowires, thermoelectricity, Seebeck coefficient, carrier mobility
Link (URL, URI)-
Titolo parallelo-
Data di accettazione-
Note/Altre informazioni-
Strutture CNR
  • IEIIT — Istituto di elettronica e di ingegneria dell'informazione e delle telecomunicazioni
Moduli CNR
    Progetti Europei-
    Allegati
    • Seebeck coefficient of nanowires interconnected into large area networks

    Dati associati a vecchie tipologie
    I dati associati a vecchie tipologie non sono modificabili, derivano dal cambiamento della tipologia di prodotto e hanno solo valore storico.
    Editore
    • American Chemical Society, Washington, DC (Stati Uniti d'America)