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Gambardella, P., Claude, L., Rusponi, S., Franke, K.J., Brune, H., Raabe, J., Nolting, F., Jonker, B.T, Veronese M., Grazioli C., Carbone, C. (2007)
Surface characterization of Mnx Ge1-x and Cry Mnx Ge1-x-y dilute magnetic semiconductors
in Physical review. B, Condensed matter and materials physics
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Gambardella, P., Claude, L., Rusponi, S., Franke, K.J., Brune, H., Raabe, J., Nolting, F., Jonker, B.T, Veronese M., Grazioli C., Carbone, C."^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaInizio "125211"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroVolume "75"^^xsd:string . @prefix ns12: . prodotto:ID52142 pubblicazioni:rivista ns12:ID174231 ; skos:note "ISI Web of Science (WOS)"^^xsd:string , "Scopus"^^xsd:string , "Google Scholar"^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "Istituto di Struttura della Materia, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Trieste, Italy\nICREA and ICN, Campus Universitat Autonoma de Barcelona, Spain\nInstitut de Physique des Nanostructures, Ecole Polytechnique F\u00E9d\u00E9rale de Lausanne, Switzerland\nSwiss Light Source, Paul Scherrer Institut, Villigen PSI, Switzerland\nEuropean Synchrotron Radiation Facility, Grenoble, France\nNaval Research Laboratory, Washington, USA"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Surface characterization of Mnx Ge1-x and Cry Mnx Ge1-x-y dilute magnetic semiconductors"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:abstract "We have used x-ray photoemission electron microscopy (XPEEM) and x-ray absorption spectroscopy (XAS) to characterize MnxGe1-x and CryMnxGe1-x-y films grown by molecular beam epitaxy. The surface layers of the as-grown films probed by XPEEM present segregation of Mn-rich phases. XAS using both total electron yield and fluorescence yield detection shows that the films are heavily oxidized after exposure to air. Etching in HF and HCl can be used to reduce oxidation, but inhomogeneities in the surface composition might not be completely eliminated depending on the Mn concentration. X-ray magnetic circular dichroism (XMCD) measurements reveal that neither the etched nor the as-grown films present remanent ferromagnetic behavior down to a temperature of 5K within the probing depth of the fluorescence yield (20nm). Mn is paramagnetic in both the oxidized and etched samples, with an increased tendency to order magnetically toward the interior of the films. Cr in CryMnxGe1-x-y possesses a paramagnetic moment only in the oxidized form. A comparison of the XAS line shapes obtained in the present study with those of Mn impurities deposited on Ge and GaAs surfaces demonstrates that the interpretation of XAS spectra of Mn-doped dilute magnetic semiconductors in the literature is often affected by residual oxidation." ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS087 , modulo:ID2160 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleEsterno:ID2239 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA7750 , unitaDiPersonaleEsterno:ID2069 . ns12:ID174231 pubblicazioni:rivistaDi prodotto:ID52142 .