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De Salvo B.; Gerardi C.; van Schaijk R.; Lombardo S.; Corso D.; Plantamura C.; Serafino S.; Ammendola G.; van Duuren M.; Goarin P.; Mei W.Y.; van der Jeugd K.; Baron T.; Gely M.; Mur P.; Deleonibus S. (2004)
Performance and reliability features of advanced nonvolatile memories based on discrete traps (silicon nanocrystals, SONOS)
in IEEE transactions on device and materials reliability
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "De Salvo B.; Gerardi C.; van Schaijk R.; Lombardo S.; Corso D.; Plantamura C.; Serafino S.; Ammendola G.; van Duuren M.; Goarin P.; Mei W.Y.; van der Jeugd K.; Baron T.; Gely M.; Mur P.; Deleonibus S."^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaInizio "377"^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaFine "389"^^xsd:string ; pubblicazioni:url "http://ieeexplore.ieee.org/xpl/articleDetails.jsp?tp=&arnumber=1369199&contentType=Journals+%26+Magazines&matchBoolean%3Dtrue%26searchField%3DSearch_All%26queryText%3D%28%28%28p_Authors%3ADe+Salvo%29+AND+p_Authors%3ALombardo%29+AND+2004%29"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroVolume "4"^^xsd:string . @prefix ns12: . prodotto:ID36228 pubblicazioni:rivista ns12:ID55150 ; skos:note "ISI Web of Science (WOS)"^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "CEA, LETI, Grenoble 9, France;\nSTMicroelect, Cent R&D, I-95121 Catania, Italy;\nPhilips Res Leuven, B-3001 Louvain, Belgium;\nCNR, IMM, I-95121 Catania, Italy;\nASM Europe, B-3001 Louvain, Belgium;\nCNRS, LTM, Grenoble 9, France"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Performance and reliability features of advanced nonvolatile memories based on discrete traps (silicon nanocrystals, SONOS)"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:abstract "In this paper, an overview of today's status and progress, as well as tomorrow's challenges and trends, in the field of advanced nonvolatile memories based on discrete traps is given. In particular, unique features of silicon nanocrystal and SONOS memories will be illustrated through original recent data. The main potentials and main issues of these technologies as candidates to push further the scaling limits of conventional floating-gate Flash devices will be evaluated." ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS057 , modulo:ID5384 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleEsterno:ID2945 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA578 . ns12:ID55150 pubblicazioni:rivistaDi prodotto:ID36228 .