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Garcia-Navarro A; Agullo-Lopez F; Bianconi M; Olivares J; Garcia G (2007)
Kinetics of ion-beam damage in lithium niobate
in Journal of applied physics
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Garcia-Navarro A; Agullo-Lopez F; Bianconi M; Olivares J; Garcia G"^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaInizio "83506"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroVolume "101"^^xsd:string . @prefix ns11: . prodotto:ID35998 pubblicazioni:rivista ns11:ID289194 ; pubblicazioni:pagineTotali "6"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroFascicolo "8"^^xsd:string ; skos:note "ISI Web of Science (WOS)"^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "Univ Autonoma Madrid, CMAM, E-28049 Madrid, Spain;\nCNR-IMM, Sez Bologna, I-40129 Bologna, Italy;\nCSIC, Inst Opt, E-28006 Madrid, Spain;\nCELLS, E-08193 Bellaterra, Barcelona, Spain;\nUniv Autonoma Madrid, Dept Fis Mat, E-28049 Madrid, Spain"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Kinetics of ion-beam damage in lithium niobate"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:abstract "The damage kinetics induced by irradiation with a diversity of swift ions (O at 5 MeV; F at 5.1 MeV; Si at 5, 7.5, and 41 MeV; and Cl at 11 and 46 MeV) has been investigated in the range of 10(12)-10(15) at./cm(2). It covers from the initial stage where single damage tracks are isolated and well separated, up to the stage where a full amorphous layer is produced. The damage is characterized by the areal fraction of disorder derived from the Rutherford backscattering/channeling spectra. The data approximately fit an abrupt Avrami-type dependence with fluence. The fluence value at which 50% of the sample surface becomes disordered shows a clear increasing trend with the electronic stopping power of the ion. The trend is consistent with Monte Carlo simulations based on a recent model for defect creation. Moreover, the quantitative agreement for the defect generation rate appears also reasonable."@en ; prodottidellaricerca:prodottoDi modulo:ID2164 , istituto:CDS057 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA28167 . @prefix parolechiave: . prodotto:ID35998 parolechiave:insiemeDiParoleChiave . ns11:ID289194 pubblicazioni:rivistaDi prodotto:ID35998 . parolechiave:insiemeDiParoleChiaveDi prodotto:ID35998 .