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Boninelli S.; Iacona F.; Franz\u00F2 G.; Bongiorno C.; Spinella C.; Priolo F. (2005)
Thermal evolution and photoluminescence properties of nanometric Si layers
in Nanotechnology (Bristol. Print)
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Boninelli S.; Iacona F.; Franz\u00F2 G.; Bongiorno C.; Spinella C.; Priolo F."^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaInizio "3012"^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaFine "3016"^^xsd:string ; pubblicazioni:url "http://scienceserver.cilea.it/pdflinks/12031822291015950.pdf"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroVolume "16"^^xsd:string . @prefix ns12: . prodotto:ID35495 pubblicazioni:rivista ns12:ID275887 ; pubblicazioni:pagineTotali "5"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroFascicolo "12"^^xsd:string ; skos:note "ISI Web of Science (WOS)"^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "Univ Catania, MATIS, INFM, CNR, I-95123 Catania, Italy; Univ Catania, Dipartimento Fis & Astron, I-95123 Catania, Italy; CNR, IMM, Sez Catania, I-95121 Catania, Italy"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Thermal evolution and photoluminescence properties of nanometric Si layers"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:abstract "The structural properties of an ultrathin (3 nm) Si layer sandwiched between two thin SiO2 layers subjected to thermal annealing have been investigated by energy filtered transmission electron microscopy (EFTEM). It has been demonstrated that the first stages of the thermal evolution of the Si layer involve the formation of a highly interconnected Si network, followed by the appearance of well defined nanoclusters (both amorphous and crystalline). The quantitative analysis of the EFTEM data allowed determination of the size and density of the Si nanoclusters, as well as their crystalline fraction. This information has been used to explain the dependence of the system photoluminescence on the annealing temperature."@en ; prodottidellaricerca:prodottoDi modulo:ID5305 , istituto:CDS057 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA11503 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA9153 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA19930 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA8590 , unitaDiPersonaleEsterno:ID17483 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA27298 . @prefix parolechiave: . prodotto:ID35495 parolechiave:insiemeDiParoleChiave . ns12:ID275887 pubblicazioni:rivistaDi prodotto:ID35495 . parolechiave:insiemeDiParoleChiaveDi prodotto:ID35495 .