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G Testa1, AMonaco1, E Sarnelli1, A D'Agostino2, D-JKang3,4,\nE J Tarte3, SHMennema3, C Bell3 and M G Blamire3 (2004)
Submicron YBa2Cu3O7-x bicrystal grain boundary junctions by Focused Ion Beam
in Superconductor science and technology (Print)
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "G Testa1, AMonaco1, E Sarnelli1, A D'Agostino2, D-JKang3,4,\nE J Tarte3, SHMennema3, C Bell3 and M G Blamire3"^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaInizio "287"^^xsd:string ; pubblicazioni:paginaFine "290"^^xsd:string ; pubblicazioni:numeroVolume "17"^^xsd:string . @prefix ns11: . prodotto:ID18889 pubblicazioni:rivista ns11:ID497364 ; pubblicazioni:pagineTotali "4"^^xsd:string ; skos:note "ISI Web of Science (WOS)"^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "1 Istituto di Cibernetica 'E Caianiello' del CNR, 80078 Pozzuoli (Naples), Italy\n2 Promete S. r. l., INFM Spin Off Company, 80124 Naples, Italy\n3 Department of Materials Science, University of Cambridge, Cambridge CB2 3QZ, UK\n4 Nanoscience Centre, IRC in Nanotechnology, University of Cambridge, Cambridge CB3 0FF, UK"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Submicron YBa2Cu3O7-x bicrystal grain boundary junctions by Focused Ion Beam"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:abstract "Submicron YBa2Cu3O7-x bicrystal grain boundary junctions have been fabricated, for the first time, by a focused ion beam process. Although such a process has always been considered detrimental to the YBa2Cu3O7-x because of gallium contamination, high quality 24degrees [001] tilt junctions characterized by RSJ current-voltage characteristics, ICRN products of the order of 1-4 x 10(4) A cm(-2) at 77 K and Fraunhofer-like modulation patterns have been obtained. No significant degradation has been observed over more than 3 months.\n\nThe critical current density J(C) and the characteristic voltage ICRN show a clear maximum for widths of the order of the Josephson penetration depth. The asymptotic normal resistance shows a typical (width)(-1) dependence, indicating that the FIB process does not increase the grain boundary resistivity of submicron junctions.\n\nExperimental results clearly show that FIB is a very powerful tool for the fabrication of high critical temperature superconducting circuits, requiring a small number of submicron Josephson junctions, and for fundamental physics analysis. it also allow the final turning or repair of superconducting or more complex integrated superconducting-semiconducting devices."@en ; prodottidellaricerca:prodottoDi modulo:ID1971 , istituto:CDS024 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA7721 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA721 . ns11:ID497364 pubblicazioni:rivistaDi prodotto:ID18889 .