@prefix pubblicazioni: . @prefix unitaDiPersonaleInterno: . @prefix prodotto: . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA29021 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID171568 . @prefix prodottidellaricerca: . @prefix istituto: . istituto:CDS057 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID171568 . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA19616 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID171568 . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA8651 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID171568 . @prefix unitaDiPersonaleEsterno: . unitaDiPersonaleEsterno:ID922 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID171568 . unitaDiPersonaleEsterno:ID2622 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID171568 . @prefix modulo: . modulo:ID2680 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID171568 . @prefix rdf: . prodotto:ID171568 rdf:type prodotto:TIPO1301 . @prefix retescientifica: . prodotto:ID171568 rdf:type retescientifica:ProdottoDellaRicerca . @prefix rdfs: . prodotto:ID171568 rdfs:label "A measurement technique for thermoelectric power of CMOS layers at the wafer-level (Contributo in atti di convegno)"@en . @prefix xsd: . prodotto:ID171568 pubblicazioni:anno "2005-01-01T00:00:00+01:00"^^xsd:gYear . @prefix skos: . prodotto:ID171568 skos:altLabel "
Mancarella F, Roncaglia A, Passini M, Cardinali GC, Severi M (2005)
A measurement technique for thermoelectric power of CMOS layers at the wafer-level
in Eurosensors XIX, Barcelona (Spain)
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Mancarella F, Roncaglia A, Passini M, Cardinali GC, Severi M"^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "CNR IMM Bologna, I-40129 Bologna, Italy"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "A measurement technique for thermoelectric power of CMOS layers at the wafer-level"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS057 , modulo:ID2680 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA29021 , unitaDiPersonaleEsterno:ID2622 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA19616 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA8651 , unitaDiPersonaleEsterno:ID922 .