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Giannazzo, F; Raineri, V; Mirabella, S; Impellizzeri, G; Priolo, F (2007)
Carrier concentration and mobility-profiling in quantum wells by scanning probe microscopy
in Microelectronic engineering; ELSEVIER SCIENCE BV, PO BOX 211, 1000 AE AMSTERDAM, NETHERLANDS, AMSTERDAM (Paesi Bassi)
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