@prefix prodottidellaricerca: . @prefix istituto: . @prefix prodotto: . istituto:CDS031 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID155348 . @prefix pubblicazioni: . @prefix unitaDiPersonaleEsterno: . unitaDiPersonaleEsterno:ID8260 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID155348 . @prefix modulo: . modulo:ID6125 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID155348 . @prefix rdf: . prodotto:ID155348 rdf:type prodotto:TIPO1714 . @prefix retescientifica: . prodotto:ID155348 rdf:type retescientifica:ProdottoDellaRicerca . @prefix rdfs: . prodotto:ID155348 rdfs:label "Improved testing procedure for pendant-dispensed drop method for characterization of high-temperature capillarity properties in the framework of solder materials (Rapporti progetti di ricerca)"@en . @prefix xsd: . prodotto:ID155348 pubblicazioni:anno "2008-01-01T00:00:00+01:00"^^xsd:gYear . @prefix skos: . prodotto:ID155348 skos:altLabel "
F. Valenza (2008)
Improved testing procedure for pendant-dispensed drop method for characterization of high-temperature capillarity properties in the framework of solder materials
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "F. Valenza"^^xsd:string ; pubblicazioni:note "Project Report: COST Action MP0602 (HISOLD), 05/2008-2"^^xsd:string ; pubblicazioni:supporto "Memorie interne"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Improved testing procedure for pendant-dispensed drop method for characterization of high-temperature capillarity properties in the framework of solder materials"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS031 , modulo:ID6125 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleEsterno:ID8260 .