@prefix prodottidellaricerca: . @prefix istituto: . @prefix prodotto: . istituto:CDS032 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID151198 . @prefix pubblicazioni: . @prefix unitaDiPersonaleInterno: . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA8562 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID151198 . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA2891 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID151198 . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA2475 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID151198 . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA18292 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID151198 . @prefix rdf: . prodotto:ID151198 rdf:type prodotto:TIPO1724 . @prefix retescientifica: . prodotto:ID151198 rdf:type retescientifica:ProdottoDellaRicerca . @prefix rdfs: . prodotto:ID151198 rdfs:label "COMPASSO-Strumentazione per controllo e misura di parametri di strati sottili e guide ottiche (Risultati di valorizzazione applicativa)"@en . @prefix xsd: . prodotto:ID151198 pubblicazioni:anno "2001-01-01T00:00:00+01:00"^^xsd:gYear . @prefix skos: . prodotto:ID151198 skos:altLabel "
Bacci C. 1, Brenci M. 1, Pace F. 2, Pelli S. 1, Righini G.C. 1 (2001)
COMPASSO-Strumentazione per controllo e misura di parametri di strati sottili e guide ottiche
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Bacci C. 1, Brenci M. 1, Pace F. 2, Pelli S. 1, Righini G.C. 1"^^xsd:string ; pubblicazioni:altreInformazioni "Lo strumento realizzato, a quanto ci risulta, ha un solo un solo omologo sul mercato ovvero il sistema Metricon 2010. Alcune delle caratteristiche del COMPASSO risultano tuttavia uniche come il sistema automatico di selezione della lunghezza d\u0092onda e della polarizzazione o come il software di ricostruzione del profilo di indice."^^xsd:string ; pubblicazioni:proprieta "CNR"^^xsd:string ; pubblicazioni:riferimentiUtilizzatori "Gli utilizzatori del prodotto sono tutti gli operatori che realizzano guide ottiche e necessitano una caratterizzazione delle strutture realizzate, sia dal punto di vista fisico, che propagativo. Lo strumento permette anche la misura dell'indice di rifrazione di strati sottili o di substrati, allargando cos\u00EC il campo di interesse a tutti coloro che operano nel campo dei film sottili o nello sviluppo di nuovi materiali.\nLo strumento \u00E8 stato sviluppato fino ad una fase pre-industriale e necessita di poche modifiche per permetterne una efficiente produzione in piccola serie."^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "1 IFAC-CNR; \n2 Dip. Ingegneria Elettronica, Universit\u00E0 di Firenze."^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "COMPASSO-Strumentazione per controllo e misura di parametri di strati sottili e guide ottiche"^^xsd:string ; pubblicazioni:descrizioneSintetica "Lo strumento permette la caratterizzazione automatica di guide planari utilizzando la tecnica dell\u0092accoppiamento a prisma (nota, con termine inglese, come dark-line spectroscopy). Lo strumento, denominato COMPASSO, \u00E8 dotato di 5 sorgenti laser a diodo e della componentistica ottica associata, in modo da permettere di effettuare misure in una banda larga (da 0,6 a 1,5 micron di lunghezza d\u0092onda), cos\u00EC da poter determinare con elevata precisione anche la dispersione cromatica dei materiali/delle guide sotto indagine. Lo strumento permette di ricavare dalla misura delle costanti di propagazione il profilo d'indice di una guida planare o diretteamente l'indice di rifrazione di un substrato nell'intervallo 1.4-2.3."^^xsd:string ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS032 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA8562 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA2891 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA18292 , unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA2475 . @prefix parolechiave: . prodotto:ID151198 parolechiave:insiemeDiParoleChiave . parolechiave:insiemeDiParoleChiaveDi prodotto:ID151198 .