@prefix prodottidellaricerca: . @prefix istituto: . @prefix prodotto: . istituto:CDS052 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID149005 . @prefix pubblicazioni: . @prefix unitaDiPersonaleInterno: . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA2792 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID149005 . @prefix rdf: . @prefix retescientifica: . prodotto:ID149005 rdf:type retescientifica:ProdottoDellaRicerca , prodotto:TIPO1725 . @prefix rdfs: . prodotto:ID149005 rdfs:label "New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures (Progetti)"@en . @prefix xsd: . prodotto:ID149005 pubblicazioni:anno "2003-01-01T00:00:00+01:00"^^xsd:gYear . @prefix skos: . prodotto:ID149005 skos:altLabel "
Bocchi C. (2003)
New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Bocchi C."^^xsd:string ; pubblicazioni:note "Coordinamento del Progetto Europeo triennale: INTAS 01-0190 (2002-2004)"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "New quantitative X-ray diagnostics of thin films and multilayer nanostructures"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS052 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA2792 .