@prefix prodottidellaricerca: . @prefix istituto: . @prefix prodotto: . istituto:CDS024 prodottidellaricerca:prodotto prodotto:ID106349 . @prefix pubblicazioni: . @prefix unitaDiPersonaleInterno: . unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA29102 pubblicazioni:autoreCNRDi prodotto:ID106349 . @prefix rdf: . prodotto:ID106349 rdf:type prodotto:TIPO1303 . @prefix retescientifica: . prodotto:ID106349 rdf:type retescientifica:ProdottoDellaRicerca . @prefix rdfs: . prodotto:ID106349 rdfs:label "Characterization of Silicon-YBCO buffered multilayers grown by sputtering (Comunicazione a convegno)"@en . @prefix xsd: . prodotto:ID106349 pubblicazioni:anno "2003-01-01T00:00:00+01:00"^^xsd:gYear . @prefix skos: . prodotto:ID106349 skos:altLabel "
Chiodoni A. , Ballarini V. , Botta D. , Camerlingo C. , Fabbri F. , Ferrari S. , Gerbaldo R. , Ghigo G. , Gozzelino L. , Laviano F. , Minetti B. , Pirri C. F. , Tallarida G. , Tresso E. and Mezzetti E. (2003)
Characterization of Silicon-YBCO buffered multilayers grown by sputtering
in APHYS2003-First International Meeting on Applied Physics, Badajoz (Spagna)
"^^rdf:HTML ; pubblicazioni:autori "Chiodoni A. , Ballarini V. , Botta D. , Camerlingo C. , Fabbri F. , Ferrari S. , Gerbaldo R. , Ghigo G. , Gozzelino L. , Laviano F. , Minetti B. , Pirri C. F. , Tallarida G. , Tresso E. and Mezzetti E."^^xsd:string ; pubblicazioni:affiliazioni "1. Politecn Torino, Ist Nazl Fis Nucl, Sez Torino, Dept Phys, I-10129 Turin, Italy\n2. Politecn Torino, UdR Torino Politecn, INFM, I-10129 Turin, Italy\n3. CNR, Ist Cibernet, I-80078 Pozzuoli, Italy\n4. INFM, MDM Lab, I-20041 Agrate Brianza, Italy\n5. ENEA, I-00044 Frascati, Italy"^^xsd:string ; pubblicazioni:titolo "Characterization of Silicon-YBCO buffered multilayers grown by sputtering"^^xsd:string ; prodottidellaricerca:abstract "In recent years, the scientific community has considered with interest the possibility to integrate YBCO-based devices with silicon-based electronics. In fact, the proved YBCO radiation hardness makes this integration appealing from the point of view of space and telecommunication applications. In this paper we report on the influence of buffered substrate properties on the superconducting performances of YBCO films. In this framework we here consider the Si/CeO(2)/YBCO multilayer. The non-satisfying quality of the YBCO film in this multilayer is attributed to an unavoidable interlayer of SiO(2) between Si and CeO(2). On the other hand, we prove, by means of quantitative magneto-optical analysis, the excellent properties of the bi-layer CeO(2)/YBCO on YSZ substrate. Thus, these measurements indicate YSZ as the best candidate to be deposited between Si and CeO(2) for optimal YBCO performances on silicon."@en ; prodottidellaricerca:prodottoDi istituto:CDS024 ; pubblicazioni:autoreCNR unitaDiPersonaleInterno:MATRICOLA29102 .