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modulo
Nanoingegneria chimica sperimentale e teorica: analisi di distribuzioni di densita' elettronica con metodi computazionali innovativi e tecniche di diffrazione di raggi X ad alta risoluzione.


Elenco Strumenti utilizzati

StrumentoUtilizzo dello strumento nel modulo
Diffrattometro a raggi X cristallo singolo con criostato a ciclo chiuso di elioAccurate misure di diffrazione di raggi X da cristallo singolo a basse temperature (20 K) 
Diffrattometro raggi X cristallo singolo (CCD area detector)Accurate misure di diffrazione di raggi X da cristallo singolo a basse temperature (100 K) 
Cluster PC 16 nodi biprocessore Intel PIII 1 GHzCalcoli quantomeccanici ab initio. Analisi di densita' elettroniche teoriche e sperimentali. 
Cluster PC 24 nodi biprocessore Intel Xeon 3,0 GHzCalcoli quantomeccanici ab initio. Analisi di densita' elettroniche teoriche e sperimentali. 
Cluster PC 8 nodi biprocessore AMD Opteron 278 2,2 GHzCalcoli quantomeccanici ab initio. Analisi di densita' elettroniche teoriche e sperimentali. 
Cluster PC 8 nodi biprocessore Intel PIII 1 GHzCalcoli quantomeccanici ab initio. Analisi di densita' elettroniche teoriche e sperimentali. 
 
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